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干涉仪的原理图和工作过程涉及光的干涉现象和相关的物理原理。下面是对其简要解释。
1、干涉仪原理图：
干涉仪主要包括两个或多个光源、一个或多个光学元件（如半反射镜或分束器）以及检测器，其基本原理是利用光的干涉现象，即两束或多束相干光波的叠加会产生特定的干涉图案。
2、干涉仪工作过程：
a. 光源发出的光通过光学元件（如分束器）被分成两束或多束相干光波。
b. 这些光波经过不同的路径（经过不同的介质或经过反射/折射），然后再次相遇并叠加。
c. 当两束光波相遇时，它们会产生干涉现象，即在相遇区域形成特定的干涉图案（如明暗相间的条纹）。
d. 通过检测器（如光电探测器或眼睛）观察干涉图案，并对其进行记录或分析。
干涉仪的具体类型和工作原理可能因应用而异，在某些干涉仪中，光源发出的光经过分束器分为两束，然后分别经过不同的路径，最后在检测器上相遇并产生干涉图案，通过分析干涉图案的变化，可以获取有关样品的信息（如厚度、折射率、表面形貌等）。
干涉仪的工作原理基于光的干涉现象，通过产生、分析和研究干涉图案来获取有关样品或其他测量对象的信息，以上内容仅供参考，如需更多信息，建议咨询物理学专家。